news Center
新闻中心
工业CT技术领导者
全站搜索
news Center
工业CT技术领导者
平面CT 能输出与板面严格平行的连续断层图像,每一层焊球在断层上独立呈现,可逐层判读焊球形态、空洞率与润湿情况。同时可查看过孔填充、层间对准与内部走线完整性,是 BGA 类封装的可靠检测手段。
BGA、CSP 封装的焊点被芯片本体遮挡,光学检测(AOI)看不到;X射线DR图像又会因上下层焊点重叠而难以判断单个焊球的状态。
CT 不做电性能测试(阻抗、信号完整性、功能测试),它只看**物理结构**。 CT 给出的是**内部结构**信息,不替代破坏性材料分析(成分、金相、力学性能)——这些需要另做理化试验。此外,可分辨的最小尺寸受工件材质与壁厚限制:同一个工件,**大尺寸与高分辨率不能同时满足**(详见几何放大倍率说明);我们也不出具有鉴定效力的法律结论。
主要还是板子尺寸的原因。板子大时普通CT 成像会有干涉、判读困难;平面CT 的断层与板面严格平行,可直接对应 PCB 的层结构。普通CT 则更适合 20 cm 以内的小板。
可以。平面CT 可逐层呈现每个焊球的断层图像,通过软件计算焊球内部空洞的体积占比,输出百分比数值,便于按 IPC 标准做判定。
可以。断层扫描不受层数限制,HDI 板、任意层互联板都可逐层观察。板厚范围支持 0.5–30 mm,超出范围可定制载台。
常规尺寸单板扫描与重建约数分钟,取决于板面尺寸、所需分辨率与断层数量。若需批量全检,建议采用 PLANAR-Micro-Online 在线检测方案。
非常适合。失效分析需要在保持样品完整的条件下定位缺陷,工业CT 的无损特性可以避免解剖过程对缺陷的二次破坏。需要注意:若要做**高精度的精确成像**,通常需把板子**切割成小块**,并用 UNI-Metro 系列机型,成像结果会更准确。
更新于 2026-10-10 · 创影精密技术部